La plateforme technique de chimie de l’Institut UTINAM UMR UFC / CNRS 6213, mutualise les moyens humains et gère les équipements de haute technicité de l’unité. Les équipements de la plateforme sont essentiellement dédiés à la caractérisation de surfaces et au soutien à la synthèse.

Ainsi, la plateforme est devenue un support aux activités de recherches des équipes de chimie de l’Institut UTINAM. Le personnel de la structure participe à différents projets scientifiques que ce soit par le biais des missions ou par les compétences liées aux connaissances techniques des appareils.

La plateforme de chimie est largement ouverte aux laboratoires de l’UBFC et aux partenaires industriels pour des projets de recherche et des prestations.

La plateforme est composée de trois pôles :

Pôle spectroscopie

Spectromètre à infrarouge (PM-IRRAS)

En spectrométrie infrarouge, on soumet un échantillon à une radiation comprise entre 4000 cm-1 et 400 cm-1 (énergie de vibration d’une molécule). La diminution de l’énergie transmise ou réfléchie est caractéristique du matériau étudié. La spectroscopie infrarouge est une technique simple à mettre en œuvre et non destructrice. L’équipement VERTEX 70 permet d’analyser presque tous les types de matériaux : poudre, liquide, massif, revêtements et monocouches.


Équipement

Appareil : Vertex 70 Bruker
Acquisition : 2011
Gamme d’analyse : de 400 à 4000 cm-1
Échantillons : Poudres, liquides, plaquettes (massifs et couches déposées sur substrat)
Modularité : mesures en transmission / en ATR / en IRRAS / en PM-IRRAS

Applications

✔ Montage en transmission :
Échantillon de poudres dispersées dans une pastille de KBr
Échantillon de liquides dans cellule transparente en IR
Échantillon de plaquettes transparentes en IR

✔ Montage en ATR (réflexion totale atténuée) :
Accessoire : Platinium mono-réflexion diamant
Échantillons de poudres, liquides ou plaquettes souples (film polymère)

✔ Montage en IRRAS (réflexion spéculaire à angle variable) :
Accessoire à angle d’incidence variable de 13° à 85° (A513 Q)
Échantillons de plaquettes non transparentes en IR (massifs ou couches déposées sur substrat)

✔ Montage en PM-IRRAS (réflexion-absorption par modulation de polarisation) :
Accessoire : PMA 50 avec détecteur MCT refroidi à l’azote liquide
Échantillons de plaquettes non transparentes en IR (monocouches déposées sur substrat métallique)

Exemples d’applications en PM-IRRAS
* Détection PM-IRRAS de gélatine sur platine : PDF - 1.3 Mo

* Détection en PM-IRRAS de SAM  : PDF - 499.7 ko


Contact

Stéphanie Beffy


Fiche demande analyses IR – PM IRRAS : Word - 93.5 ko

Spectrométrie de résonance magnétique nuclénaire (RMN)


Équipement

Appareil : ASCEND 400 Bruker
Acquisition : 2016


Applications

✔ Identification de molécules
✔ Vérification de composés issus de synthèse
✔ Elucidation de structure chimique

Exemples d’applications en RMN
*


Contact

Stéphanie Beffy


Fiche demande analyses RMNWord - 92 ko

Pôle microscopie

Microscope à force atomique (AFM)

Le principe du microscope à forme atomique (AFM) se base sur les interactions (attraction/répulsion) entre les atomes surfaciques et la pointe sondeuse. La pointe est montée sur un levier très flexible et la mesure de la flexion du levier donne une mesure directe de la force d’interaction entre la surface sondée et la pointe. L’AFM Nano Observer permet de réaliser des images topographiques, notamment in situ, et de cartographier des propriétés physiques de surfaces.


Équipement

Appareil : Nano Observer CSI – ScienTec Nano Observer ScienTec
http://www.csinstruments.eu/our-products/nano-observer-afm-microscope/
Acquisition : 2015

Échantillons : métalliques, polymères, céramiques, biologiques (cellules, ADN … )

Logiciels : Mountains – Digital Surf pour le traitement des images


Applications

✔ Images topographiques des échantillons à l’air et en milieu liquide
✔ Cartographie des propriétés physiques (magnétiques, électriques, potentiel de surface, conductivité, …)
✔ Images in-situ
✔ Mesure de courbes de forces à l’air et en milieu liquide
✔ Rugosimétrie à l’échelle nanométrique

Exemples d’analyses AFM
Exemples d’images AFM
Exemples d’alayses AFM in-situ


Contact

Monney Sandrine

Fiche demande analyses AFM
Word - 94.5 ko

 

Microscope électronique à balayage (MEB)

La microscopie électronique à balayage (MEB) est une technique non destructive qui utilise un faisceau d’électrons pour analyser la surface des échantillons sur une échelle allant du millimètre jusqu’au nanomètre. Le MEB FEG TESCAN produit des images à fort grossissement et à haute résolution. Couplé à une sonde EDS, l’équipement permet une analyse quantitative de l’échantillon.


Équipement

Appareil : MEB FEG TESCAN
Acquisition : 2018


Applications

✔ Morphologie de surface
Micrographies MEB

✔ Analyses quantitatives
Analyses EDS


Contact

Nicolas Rouge

Fiche demande analyses MEB
PDF - 50.5 ko

Pôle surface

La diffraction des rayons X permet une analyse rapide et non destructive d’un mélange de phases cristallines. L’arrangement géométrique des atomes et la distance entre eux constituent une carte d’identité unique pour chaque composé. Les thématiques développées avec le D8 Advance sont l’identification et la quantification des phases, l’analyse microstructurale avec détermination de la taille de cristallites et les mesures en température.


Équipement

Appareil : D8 Advance Bruker
Acquisition : 2008
Anticathode : Anode fixe en cuivre avec Kα = 1.54184 A
Détecteur : Détecteur linéaire rapide LynxEye
Montage : θ/θ avec un goniomètre de diamètre de focalisation de 500 mm
Configuration : Bragg-Brentano
Échantillons : Poudres, massifs, revêtements épais
Porte-échantillon : Passeur 9 positions / Chambre en température (HTK 1200)

Logiciels
Acquisition des données : XRD Commander
Programmation : XRD Wizard
Traitements des données : EVA
Affinement Rietveld : TOPAS


Applications

✔ Identification des phases
Exemples d’identification de phase

✔ Mesure en température
Exemples de mesures en température


Contact

Moutarlier Virginie

Fiche demande analyses DRX
PDF - 47.9 ko
  

La Spectrométrie à Décharge Luminescente (SDL) ou Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GDOES) permet une érosion par plasma ionique de surfaces, afin d’obtenir la répartition des éléments dans la profondeur. La SDL possède des atouts majeurs : mise en œuvre simple (vide primaire), préparation des échantillons réduite (s’ils présentent la bonne géométrie), résolution en profondeur satisfaisante (de quelques nm jusqu’à 100 µm) et durée d’analyse courte sur des échantillons conducteurs et isolants.


Équipement

Appareil : GD Profiler HORIBA Jobin Yvon
Acquisition : 2005
Échantillons : échantillons conducteurs ou isolants,
plans sur les deux faces de 2 cm x 2 cm minimum

Éléments détectables : 30 éléments, voir liste :

PDF - 192.5 ko

Monochromateur : permet la détection d’un élément supplémentaire
Acquisition : 2011

Profilomètre Veeco (Bruker) : permet d’observer les cratères d’érosion
Acquisition : 2011


Applications

✔ Analyses SDL qualitatives
✔ Analyses SDL et quantitatives, après étalonnage de la méthode
Exemples d’analyses SDL

Exemples d’applications
* Suivi par SDL du relargage d’inhibiteurs contenus dans des couches de sol-gel :

PDF - 698.5 ko

* Analyses SDL de couches minces formées lors du décapage de l’aluminium :

PDF - 1.6 Mo

* Analyses par SDL de polymère organique sur FTO :

PDF - 1.5 Mo

Contacts

Moutarlier Virginie

Fiche demande analyses SDL
PDF - 47.8 ko

Des équipements communs sont à la disposition des chercheurs :

Actualités de l'équipe

Publications de l'équipe

Membres de l'équipe

B

Assistante Ingénieure CNRSPlateforme technique de chimie
Technicienne Université de Franche-ComtéPlateforme technique de chimie

M

Ingénieure d’études Université de Franche-ComtéPlateforme technique de chimie
Ingénieure d’études CNRSPlateforme technique de chimie

Q

Adjointe technique Université de Franche-ComtéPlateforme technique de chimie

R

Ingénieur d’Études Université de Franche-ComtéPlateforme technique de chimie