Diffractomètre de rayons X (DRX)
La diffraction des rayons X permet une analyse rapide et non destructive d’un mélange de phases cristallines. L’arrangement géométrique des atomes et la distance entre eux constituent une carte d’identité unique pour chaque composé. Les thématiques développées avec le D8 Advance sont l’identification et la quantification des phases, l’analyse microstructurale avec détermination de la taille de cristallites et les mesures en température.
Équipement :
- Appareil : D8 Advance Bruker
- Acquisition : 2008
- Anticathode : Anode fixe en cuivre avec Kα = 1.54184 A
- Détecteur : Détecteur linéaire rapide LynxEye
- Montage : θ/θ avec un goniomètre de diamètre de focalisation de 500 mm
- Configuration : Bragg-Brentano
- Échantillons : Poudres, massifs, revêtements épais
- Porte-échantillon : Passeur 9 positions / Chambre en température (HTK 1200)
Logiciels :
- Acquisition des données : XRD Commander
- Programmation : XRD Wizard
- Traitements des données : EVA
- Affinement Rietveld : TOPAS
Applications :
- Identification et quantification des phases cristallines sur poudres, massifs et revêtements
- Traitements des diffractogrammes : paramètres de maille, taille des cristallites, orientations …
- Mesures en température de l’ambiante à 1200°C
Contact : Moutarlier Virginie
Spectrométrie à décharge luminescente (SDL)
La Spectrométrie à Décharge Luminescente (SDL) ou Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy (GDOES) permet une érosion par plasma ionique de surfaces afin d’obtenir la répartition des éléments dans la profondeur. La SDL possède des atouts majeurs : mise en œuvre simple (vide primaire), préparation des échantillons réduite (s’ils présentent la bonne géométrie), résolution en profondeur satisfaisante (de quelques nm jusqu’à 100 µm) et durée d’analyse courte sur des échantillons conducteurs et isolants.
Équipement :
- Appareil : GD Profiler HORIBA Jobin Yvon
- Acquisition : 2005
- Échantillons : échantillons conducteurs ou isolants,
plans sur les deux faces de 2 cm x 2 cm minimum - Éléments détectables : 30 éléments
- Monochromateur : permet la détection d’un élément supplémentaire
Acquisition : 2011 - Profilomètre Veeco (Bruker) : permet d’observer les cratères d’érosion
- Acquisition : 2011
Applications :
- Analyses SDL qualitatives
- Analyses SDL et quantitatives, après étalonnage de la méthode