Pôle microscopie

Microscope à force atomique (AFM)

Le principe du microscope à forme atomique (AFM) se base sur les interactions (attraction/répulsion) entre les atomes surfaciques et la pointe sondeuse. La pointe est montée sur un levier très flexible et la mesure de la flexion du levier donne une mesure directe de la force d’interaction entre la surface sondée et la pointe. L’AFM Nano Observer permet de réaliser des images topographiques, notamment in situ, et de cartographier des propriétés physiques de surfaces.


Équipement :


Applications :

  • Images topographiques des échantillons à l’air et en milieu liquide
  • Cartographie des propriétés physiques (magnétiques, électriques, potentiel de surface, conductivité, …)
  •  Images in-situ
  • Mesure de courbes de forces à l’air et en milieu liquide
  • Rugosimétrie à l’échelle nanométrique

Contact : Monney Sandrine

Fiche analyse – AFM

Microscope électronique à balayage (MEB)

La microscopie électronique à balayage (MEB) est une technique non destructive qui utilise un faisceau d’électrons pour analyser la surface des échantillons sur une échelle allant du millimètre jusqu’au nanomètre. Le MEB FEG TESCAN produit des images à fort grossissement et à haute résolution. Couplé à une sonde EDS, l’équipement permet une analyse quantitative de l’échantillon.


Équipement :

  • Appareil : MEB FEG TESCAN
  • Acquisition : 2018

Applications :

  • Morphologie de surface : Micrographies MEB
  • Analyses quantitatives :Analyses EDS

Contact : Nicolas Rouge

Fiche analyse – MEB