Microscope à force atomique (AFM)
Le principe du microscope à forme atomique (AFM) se base sur les interactions (attraction/répulsion) entre les atomes surfaciques et la pointe sondeuse. La pointe est montée sur un levier très flexible et la mesure de la flexion du levier donne une mesure directe de la force d’interaction entre la surface sondée et la pointe. L’AFM Nano Observer permet de réaliser des images topographiques, notamment in situ, et de cartographier des propriétés physiques de surfaces.
Équipement :
- Appareil : Nano Observer CSI – ScienTec Nano Observer ScienTec
http://www.csinstruments.eu/our-products/nano-observer-afm-microscope/ - Acquisition : 2015
- Échantillons : métalliques, polymères, céramiques, biologiques (cellules, ADN … )
- Logiciels : Mountains – Digital Surf pour le traitement des images
Applications :
- Images topographiques des échantillons à l’air et en milieu liquide
- Cartographie des propriétés physiques (magnétiques, électriques, potentiel de surface, conductivité, …)
- Images in-situ
- Mesure de courbes de forces à l’air et en milieu liquide
- Rugosimétrie à l’échelle nanométrique
Contact : Monney Sandrine
Microscope électronique à balayage (MEB)
La microscopie électronique à balayage (MEB) est une technique non destructive qui utilise un faisceau d’électrons pour analyser la surface des échantillons sur une échelle allant du millimètre jusqu’au nanomètre. Le MEB FEG TESCAN produit des images à fort grossissement et à haute résolution. Couplé à une sonde EDS, l’équipement permet une analyse quantitative de l’échantillon.
Équipement :
- Appareil : MEB FEG TESCAN
- Acquisition : 2018
Applications :
- Morphologie de surface : Micrographies MEB
- Analyses quantitatives :Analyses EDS