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Microscope à force atomique (AFM)

par Virginie Moutarlier -


Le principe du microscope à forme atomique (AFM) se base sur les interactions (attraction/répulsion) entre les atomes surfaciques et la pointe sondeuse. La pointe est montée sur un levier très flexible et la mesure de la flexion du levier donne une mesure directe de la force d’interaction entre la surface sondée et la pointe. L’AFM Nano Observer permet de réaliser des images topographiques, notamment in situ, et de cartographier des propriétés physiques de surfaces.


Équipement

Appareil : Nano Observer CSI - ScienTec Nano Observer ScienTec
http://www.csinstruments.eu/our-products/nano-observer-afm-microscope/
Acquisition : 2015

Échantillons : métalliques, polymères, céramiques, biologiques (cellules, ADN … )

Logiciels : Mountains - Digital Surf pour le traitement des images


Applications

✔ Images topographiques des échantillons à l’air et en milieu liquide
✔ Cartographie des propriétés physiques (magnétiques, électriques, potentiel de surface, conductivité, …)
✔ Images in-situ
✔ Mesure de courbes de forces à l’air et en milieu liquide
✔ Rugosimétrie à l’échelle nanométrique

Exemples d’analyses AFM
Exemples d’images AFM
Exemples d’alayses AFM in-situ


Contact

Monney Sandrine
téléphone : 03 81 66 65 11
e-mail : sandrine.monney chez univ-fcomte.fr

Fiche demande analyses AFM
Word - 94.5 ko