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Accueil > Séminaires > Archive des séminaires d’Utinam > Archive des séminaires de chimie (jusqu’en 2011) > 2010

Fonctionnalisation de surfaces et caractérisations fines

par Edith Burgey -

Jeudi 29 avril

Cathy Meunier

FEMTO-ST/ENISYS

Résumé :

Dans cette présentation, les fonctionnalisations par dépôts de carbone amorphe DLC et de couches d’oxydes dans le système TiO2-SiO2 seront présentées en termes d’élaboration, caractérisations et propriétés. L’approche fonctionnalisation par micro faisceau d’ion sera abordée. Un accent sera mis sur la caractérisation par rayons X à travers la diffraction (XRD) et la réflexion (XRR) pour les systèmes sub micrométriques ou nanométriques (fonctionnalisation par adsorption ou greffage, par dépôt minces). Les études RX seront orientées vers la détermination de tailles, de déformations en diffraction et vers la détermination de densités électroniques, des épaisseurs et des profils de densité en réflexion