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Accueil > Services communs > Plateforme technique de chimie

Diffractomètre de rayons X (DRX)

par Virginie Moutarlier -

La diffraction des rayons X permet une analyse rapide et non destructive d’un mélange de phases cristallines. L’arrangement géométrique des atomes et la distance entre eux constituent une carte d’identité unique pour chaque composé. Les thématiques développées avec le D8 Advance sont l’identification et la quantification des phases, l’analyse microstructurale avec détermination de la taille de cristallites et les mesures en température.


Equipement

Appareil : D8 Advance Bruker
Acquisition : 2009
Anticathode : Anode fixe en cuivre avec Kα = 1.54184 A
Détecteur : Détecteur linéaire rapide LynxEye
Montage : θ/θ avec un goniomètre de diamètre de focalisation de 500 mm
Configuration : Bragg-Brentano
Echantillons : Poudres, massifs, revêtements épais
Porte-échantillon : Spinner / table XYZ / passeur 9 positions / Chambre en température (HTK 1200)

Logiciels
Acquisition des données : XRD Commander
Programmation : XRD Wizard
Traitements des données : EVA
Affinement Rietveld : TOPAS


Applications

✔ Identification des phases
Exemples d’identification de phase

✔ Mesure en température
Exemples de mesures en température


Contact

Moutarlier Virginie
téléphone : 03 81 66 20 22
e-mail : virginie.moutarlier chez univ-fcomte.fr

Fiche demande analyses DRX
PDF - 47.9 ko